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Rutherford Backscattering Spectrometry analysis of iron-containing Bi2Se3 Topological Insulator thin films

机译：含铁Bi2Se3拓扑绝缘体薄膜的卢瑟福背散射光谱分析

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机译：国际观众

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Alarcon-Diez, Victor; Eddrieff, Mahmoud; Vickridge, Ian;
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年度 2015
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